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TSS-5X-3红外线发射率测试仪
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TSS-5X-3红外线发射率测试仪

TSS-5X-3红外线发射率测试仪本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种物体的放射率。

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  • 地   址:
    北京 通州区 北京通州区通州工业开发区光华路16号方和正圆大厦A座2楼
是否进口:是加工定制:否品牌:日本
型号:TSS-5X-3重量:8Kg产品用途:红外线发射率测试仪
规格:TSS-5X-3

北京睿志科技、北京瑞森科技展有限公司销售的:日本TSS-5X-3红外线发射率测试仪也称为TSS-5X红外线放射率测试器,远红外测试仪,本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种材料的表面发射率。

TSS-5X-3远红外线发射率测试仪,TSS-5X-3远红外线放射率测试器,远红外测试仪早已经由材料科研单位、半导体产业等的单位采用。 广泛用于红外材料测量。

 

日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪应用:

 

1、在机器的热设计中必须使用的零件的发射率测量;

2、藉由放射温度计的测量物体来补正放射率;

3、各种零件的加工/处理前后的发射率比较;

4、其他、从零件的放射率求取物体本身的发射率等;

5、材料科学院、实验领域必须的检测分析设备。

 

日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪产品构成:

1.红外线照射源

藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉,在材料中集中照射。

2.红外线检验素子

从材料反射出的能量的一部分,射进半球面黒体炉的顶点的小孔,用一定比率做检验。

注:比率是依据光学系的构造来决定。

3.发射率演算回路

从反射能量检验器的输出,演算试料的发射率。

注:材料的反射率和发射率的关系式如下:r εε=1-r

4.放射率表示値的校正

用发射率标准片(ε=0.06与0.94)做校准.

测量原理:利用恒温放射的远红外线发射源,将能量照射后计算所反射的能量。

测量波长:2-22μm

测量范围:0.00-1.00

额定精度:±0.01

测量面积:Φ15mm

测量距离:12mm(固定探头的脚柱部)

被测物温:10-40℃(室温)

输  出:0-0.1V,0-1V(满载)

使用温度:10-45℃

使用湿度:35-85%RH(未结露、霜之状态)

使用电源:AC100V ±10%,50/60Hz

外型尺寸:探头Φ51X137mm(0.5Kg)    

主机:H170X W306xD230mm(5Kg)

配件:发射率标准片0.94、0.06各一片。

 

代理商:

北京睿志科技展有限公司

Beijing Huaruizhida Technology Development Co.Ltd.,

北京瑞森科技展有限公司

Beijing Huaru***n Technology Development Co.Ltd.,


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